晶圆探针卡又称探针卡，英文名称“Probe card”。广泛用于内存、逻辑、消费、驱动、通讯IC等科技产品的晶圆测试，属半导体产业中相当细微的一环。当IC设计完成后，会下单给晶圆代工厂制作，晶圆制作完成后而尚未切割封装之际，为确保晶圆良率及避免封装的浪费，须执行晶圆电性测试及分析制成测试回路，于IC封装前，以探针针测晶粒，筛选出电性功能不良的芯片，避免不良品造成后段制造成本的浪费。
 
   随着半导体制成的快速发展，传统探针卡已面临测试极限，为满足高级密度测试，探针卡类型不断发展，本文就介绍探针卡分类记住要设计参数。
   探针卡发展概括及种类：
 随着晶圆技术的不断提升，探针卡的种类不断地更新。最早的探针卡发展于1969年。主要分为epoxy ring 水平式探针卡；垂直式探针卡；桥接支持构件；SO I形式探针卡 。目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂及垂直探针卡2种类型。
   无锡普罗卡科技是一家专业从事测试解决方案的公司。公司拥有一批在半导体测试行业数十年的员工组成，从事探针卡设计，制造，研发；目前主要生产和销售的产品有晶圆测试探针卡，IC成品测试爪，以及测试系统解决方案。

   探针卡是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，通过连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行检测。主要应用在IC尚未封装前，通过测试筛选出不良产品，在进行之后的封装工程，从而降低封装成本！